国家知识产权局信息显示，湖南纳昇电子科技有限公司申请一项名为“一种柔性有机半导体薄膜缺陷的光谱检测系统及方法”的专利，公开号CN121027149A，申请日期为2025年9月。

　　专利摘要显示，本发明公开了一种柔性有机半导体薄膜缺陷的光谱检测系统和方法，检测方法采用检测系统实施，检测系统包括泵浦光源、分光装置、薄膜缺陷检测模块、背景光谱监测模块和数据采集模块；泵浦光源用于激发泵浦光，分光装置设置在泵浦光的光路上，用于将泵浦光分为两路去向，一路进入薄膜缺陷检测模块，另一路进入背景光谱监测模块；数据采集模块用于收集薄膜缺陷检测模块生成的光热偏转信号光谱数据和背景光谱监测模块生成的背景光谱数据。本发明可实现有机薄膜拉伸测试过程中光热偏转光斑和拉伸样品位置的精准控制，从而保证最佳信号稳定性、测量准确性和可重复性，填补了市面上柔性薄膜检测系统的空缺，为柔性有机半导体薄膜的科学研究、产业升级提供了硬件支持。

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